خانه محصولات تجهیزات آزمایشگاهی غیر مخرب

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

Name: High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application
Brand: HUATEC GROUP CORPORATION
Price: 26,775.00 USD
Availability: InStock

همه محصولات

تجهیزات آزمایشگاهی غیر مخرب
(1429)

اخطار نقص التراسونیک
(124)

اشعه ایکس نقص آشکارساز
(154)

X-Ray Pipeline Crawler
(20)

تجهیزات تست ذرات مغناطیسی
(192)

تجهیزات تست جرثقیل
(33)

رادیوگرافی فیلم بیننده
(19)

بلوک کالیبراسیون اولتراسونیک
(50)

پروب سونوگرافی
(22)

دستگاه نظارت رادیویی
(24)

صفحه نمایش تقویت کننده سرب
(7)

نوع سیم پنترامتر
(6)

اندازه گیری ضخامت پوشش
(109)

ماشین تست سختی
(165)

تستر رطوبت سطحی قابل حمل
(45)

تجهیزات متالوگرافی
(31)

متر لرزش قابل حمل
(66)

بهترین محصولات

کالیبراسیون ارتعاش دیجیتال

گواهی

نظرات مشتریان

طیف گسترده ای از محصولات NDT، ما می توانیم همه در گروه huatec دریافت کنید. ما ترجیح می دهیم از آنها خرید کنیم. رودلف شتنمن روسیه

—— رودلف شتینمن

من این سرویس، پاسخ سریع و کار حرفه ای را دوست دارم ترک ترکیه

—— آرت کایا

تستر سختی huatec، با کیفیت بسیار بالا، ما بسیار با تستر قابل حمل سخت RHL-50 راضی هستیم. کومارن گوندرند سوته افریقا

—— کومارن گاو نر

چت IM آنلاین در حال حاضر

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

تصویر بزرگ : High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

جزئیات محصول:

محل منبع:	چین
نام تجاری:	HUATEC
گواهی:	CE

پرداخت:

مقدار حداقل تعداد سفارش:	1 مجموعه
جزئیات بسته بندی:	بسته بندی کارتن بیرونی
زمان تحویل:	5-7 روز کاری پس از دریافت پرداخت شما
شرایط پرداخت:	T/T، وسترن یونیون، پی پال
قابلیت ارائه:	10 ست در ماه

مخاطب

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

شرح

روش ترکیبی:	کامپوزیت نوع 1-3	مدل مواد پایه:	PZ44
تحمل پیش فرض:	± 0.05 میلی متر	فرکانس کامپوزیت تک کریستالی:	5-10 مگاهرتز
فرکانس کامپوزیت سرامیکی:	0.5-15 مگاهرتز
برجسته کردن:	ceramic single crystal wafer,NDT sensor composite wafer,high precision testing wafer , NDT sensor composite wafer , high precision testing wafer

High Precision Ceramic Single Crystal Composite Wafer for NDT Sensor Application

Performance Features

High sensitivity
High bandwidth
Low acoustic impedance
Good matching with water / human tissue / tested medium
Low ringing time
High signal-to-noise ratio

1	Type 1-3 ceramic composite wafers	Example: Frequency MHz/ Length × width mm
Overall dimensions
Wafer length L(mm)			Default tolerance±0.05mm	Note: The single crystal composite frequency is 5-10 MHZ, and the ceramic composite frequency is 0.5-15 MHZ. Other frequencies require technical confirmation
Wafer width W(mm)			Default tolerance±0.05mm
Wafer thickness H(mm)/ wafer frequency(MHz)			Default tolerance for thickness±0.005mm
pitch(mm)	(The size of the small crystal column is added with a knife slit)		It would be best if the customer could provide it. Some Osos have default Settings
Knife slit(mm)
Performance parameters
Composite method	Type 1-3 composite
Base material model	PZ44
Process requirements
Does the electrode need to be edge-wrapped	When edge banding is required, chamfering will be done by default. The drawings provided by the customer are attached
Is an isolation slot needed	When an isolation tank is required, the customer shall provide the drawings (including dimensions and polarity) as attached
Coating requirements	PVD:Gilding
Whether polarization is needed	Default polarization
Whether the positive and negative poles are marked	By default, the red marker dot is the positive pole
Other special requirements	Please describe it in detail if necessary
Test report
ULSO LOGO report	√
Logo-free report
Packaging requirements
Independent packaging	√
Not packaged independently